输入模块 1756-IF8 AB抗干扰能力强视频

输入模块 1756-IF8 AB抗干扰能力强

1756-PB72	1769-ADN	1734-IV4	1746-IV16	1761-CBL-PM02
1756-OA16I	1769-SM2	1734-IV8	1746-IV32	1761-NET-AIC
1756-OB16E	1769-OF4CI	1734-MB	1746-NI4	1762-IQ8
1756-OW16I	1769-DPS	1734-OA4	1746-NI04I	1768-CNBR
1756-L71	1769-OB16	1734-AENT	1746-NI04V	1762-L24BWA
1756-OX8I	1769-OB16P	1734-OB4	1746-NO4V	1762-OB16
1756-PA72	1769-L35E	1734-TBS	1746-NT4	1763-BA
1756-PLS	1769-0A8	1734-OB4E	1746-OA16	1764-24BWA
1756-PSCA2	1769-OB16	1734-OB8	1746-P1	1764-LRP
1756-RM	1769-OB32	1734-OB8S	1746-P3	1764-LSP
1756-RMC1	1769-OB8	1734-OE2V	1746-A10	1768-PB3
1756-PA75R	1769-OF2	1756-L72	1746-A7	1768-CNB
1756-OB16E	1769-ASCII	1734-OW2	1746-OB16	1768-L43
1756-A10	1769-OV16	1734-TBCJC	1746-OB16E	1768-ENBT
1756-A13	1769-OW16	1734-ACNR	1746-OB32	1768-EWEB
1756-A17	1769-OW8	1734-AENTR	1746-BAS	1768-MI04SE
1756-PA75	1769-QWBT	1734-ARM	1746-TM16	1771-OBN
1756-TBS6H	1769-IQ32	1734-AFM	1746-IB32	1771-ASB
1756-IB16I	1769-IQ6X0W4	1734-EP24DC	1746-OBP8	1771-IBD
1756-OF4	1769-I6X0W4	1734-EPAC	1746-OW16	1771-OAN
1756-CN2R	1769-IQ620W4	1734-FPD	1746-HSCE	1771-CFM
1756-CN2RXT	1769-L30	1734-IB2	1746-HSRV	1783-BMS10CGP
1756-OB32	1769-L30ERMS	1734-IB4	1746-IA16	1783-EMS08T
1756-OB8	1769-L32C	1734-IT2I	1746-IO12DC	1783-MEKO8T
1756-A7	1769-L33ER	1794-OF4I	1746-OW8	1783-SFP1GLX
1756-CN2	1769-IF4X0F2	1794-OF4IXT	1747-ASB	1783-US05T
1756-CNB	1769-IF8	1794-OW8	1747-L524	1783-USO8T
1756-CNBR	1769-IQ16	1794-TB3	1747-L532	1784-CF64
1756-OF6CI	1769-PA2	1794-PS13	1747-L542	1784-KT
1756-RM2	1769-PB2	1794-PS3	1747-L543	1784-SD1
1756-OF6VI	1769-BA	1794-TB32	1747-L552	1786-RPA
1756-CPR2	1769-ECL	1794-TB3TS	1747-SDN	1786-RPCD
1756-DHRI0	1769-ECR	1794-TBNF	1747-SN	1786-RPFM
1756-OB16I	1769-IA16	1794-TB32S	1757-SRM	1787-MCABL

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西门子数字化工业软件近日推出 Tessent™ RTL Pro 创新软件解决方案，旨在帮助集成电路 (IC) 设计团队简化和加速下一代设计的关键可测试性设计 (DFT) 任务。

随着 IC 设计规模不断增大、复杂性持续增长，工程师需要在设计早期阶段发现并解决可测试性问题，西门子的 Tessent 软件可以在设计流程早期阶段分析和插入大多数 DFT 逻辑，执行快速综合，运行 ATPG（自动测试向量生成），以发现和解决异常模块并采取适当的措施，满足客户不断增长的需求。

Tessent RTL Pro 进一步扩展了 Tessent 产品组合的设计编辑功能，可在设计流程早期自动完成测试点、封装器单元和 X-bounding 逻辑的分析和插入，有助于客户缩短设计周期，改进设计的可测试性。与其他解决方案不同，Tessent RTL Pro 可处理复杂的 Verilog 和 SystemVerilog 结构，同时保持原始 RTL 设计的风格。

半导体公司 Renesas 目前已采用 Tessent RTL Pro 来推进其“左移” (Shift-left) 工作。Renesas Electronics Corporation 共享研发 EDA 业务部数字设计技术部门 EDA 主任工程师 Tatsuya Saito 表示：“使用 Tessent RTL Pro 进行下一代汽车半导体设计，能够帮助 Renesas 延续左移策略，减少传统设计流程的迭代次数，我们现在不仅可以完成这个既定目标，同时还能保持的覆盖率和向量数量，为后端和验证团队提供包含 Tessent IP（包括 RTL 中的 VersaPoint 测试点）的相同完整设计视图，这对 Renesas 提升竞争力而言至关重要。”

新解决方案与西门子 Tessent DFT 工具配合使用能够实现先进功能，Tessent RTL Pro 能够分析 RTL 复杂性及其对测试点插入的适应性，从而评估是否能够高效地编辑用户的 RTL 结构，这是在整个设计过程中添加测试点时的一个关键因素，能够帮助用户缩短设计周期，加快产品上市速度。

在综合之前添加 DFT 逻辑时，Tessent RTL Pro 的“左移”功能有助于增强第三方工具优化面积和时序的能力，在门级电路中只需执行扫描链插入。设计插入在 RTL 开发阶段进行，利用 RTL 输出，实现与第三方综合和验证软件的无缝集成。此外，RTL Pro 生成的设计文件可与任何下游的综合或验证流程配合使用，而无需封闭流程。

西门子数字化工业软件 Tessent 部门副总裁兼总经理 Ankur Gupta 表示：“Tessent RTL Pro 继续履行西门子的使命，为芯片设计人员和 DFT 工程师提供业界的解决方案，用于其设计流程。由于能够在设计的 RTL 阶段中分析和插入封装器单元、X-bounding 逻辑和 VersaPoint 测试点，客户现在可以显著提高其设计的可测试性，从而进一步推进其左移计划。”

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