应用案例 | 3D线激光SIM卡托平面度检测，让你信号满满！

SIM卡托多选用不锈钢片或者合金材料加工而成，来确保SIM卡托在实际使用过程中具有足够的坚韧度。但在生产过程中由于一些因素，可能会出现SIM卡托表面不平整或者缺陷，若未能及时发现，在装配成品后会影响产品的使用性能。

利用三维线激光扫描仪，来检测SIM卡托是否缺陷或者损坏，采用非接触方式，无需担心划伤目标物，在高速、精细和重复的检测过程中也更加可靠，与传统的人工检测方法相比，具有的优越性。

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三维线激光扫描仪

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激光三角反射原理

1.三维轮廓扫描仪发射线激光，测量物体被照射后表面形成漫反射，反射光通过 CMOS 芯片进行接收，通过计算反射光在芯片的位置，可以得到被测物体的高度段差和形状信息。

2.根据被测物体的大小和精度要求，可针对 LS 系列灵活选型，搭设简便，易于集成。

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产品特点

1.高精度CMOS芯片，横向轮廓数据高3840点；

2.蓝色半导体激光，大限度保证稳定检测；

3.优异的算法处理，集成动态曝光，动态3D轮廓算法等多项专有技术；

4.IP67等级防护，适应各种复杂应用环境；

5.灵活的视场宽度，各种型号可供选择。

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检测案例

检测需求：

1.精度要求：平面度重复性0.01mm以内；

2.速度要求：2.5s/pcs以内。

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应用选型

方案采用wonsor一体式3D激光轮廓仪LS-4020，测量范围±2.3mm，基准距离为20mm，Z轴重复精度可达0.4μm。采用非接触方式，无需担心划伤目标物；通过使用倾斜补正功能消除因目标物的 位置偏移所导致的误差。

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检测结果

相机水平安装，扫描卡托测量32组数据，重复性为0.005mm。

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客户获益

1.三维线激光扫描仪处理图像速度快，效率高，检测精度满足项目需求；

2.核心芯片自主研发，高性价比，节约客户成本；

3.一体式3D激光轮廓仪LS-4020高精度稳定测量，保证客户生产品质管控。

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